- 如果您對該產(chǎn)品感興趣的話，可以
- 產(chǎn)品名稱：MiniTest1100/2100/3100/4100涂層測厚儀
- 產(chǎn)品型號：
- 產(chǎn)品展商：德國EPK
- 產(chǎn)品文檔：無相關(guān)文檔
簡單介紹
德國EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測厚儀特點(diǎn)：
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī)，各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能；
- 所有型號均可配所有探頭
- 可通過RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)
- 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)
產(chǎn)品描述
功能
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型號
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1100
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2100
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3100
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4100
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MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
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應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))
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1
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1
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10
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99
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每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)，可設(shè)寬容度極限值)
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-
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1
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10
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99
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可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識特性的組數(shù)
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1
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500
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500
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數(shù)據(jù)總量
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1
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10000
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10000
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10000
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MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
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讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar
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√
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√
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讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
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-
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√
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√
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組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar
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-
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-
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√
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√
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組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
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-
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-
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√
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√
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存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
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-
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√
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分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值
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√
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√
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顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間
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√
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√
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√
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其他功能
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透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)
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√
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√
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在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)
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√
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√
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√
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√
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利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)
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√
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√
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√
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√
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補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset)
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-
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-
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√
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√
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外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能
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-
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√
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√
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√
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保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置
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√
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√
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更換電池是存儲(chǔ)數(shù)值
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√
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√
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設(shè)置極限值
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-
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-
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√
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√
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公英制轉(zhuǎn)換
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√
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√
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√
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√
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連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識別*大*小值
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-
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√
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連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
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-
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√
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浮點(diǎn)和定點(diǎn)方式數(shù)據(jù)傳送
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√
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√
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√
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√
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組內(nèi)單值延遲顯示
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-
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√
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√
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√
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連續(xù)測量模式中顯示*小值
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√
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√
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√
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√
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可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇*適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
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探頭
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量程
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低端
分辨率
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誤差
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*小曲率
半徑(凸/凹)
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*小測量
區(qū)域直徑
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*小基
體厚度
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探頭尺寸
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F05
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0-500μm
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0.1μm
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±(1%+0.7μm)
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1/5mm
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3mm
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0.2mm
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φ15x62mm
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F1.6
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0-1600μm
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0.1μm
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±(1%+1μm)
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1.5/10mm
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5mm
|
0.5mm
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φ15x62mm
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F1.6/90
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0-1600μm
|
0.1μm
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±(1%+1μm)
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平面/6mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ8x170mm
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F3
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0-3000μm
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0.2μm
|
±(1%+1μm)
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1.5/10mm
|
5mm
|
0.5mm
|
φ15x62mm
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F10
|
0-10mm
|
5μm
|
±(1%+10μm)
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5/16mm
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20mm
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1mm
|
φ25x46mm
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F20
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0-20mm
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10μm
|
±(1%+10μm)
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10/30mm
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40mm
|
2mm
|
φ40x66mm
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F50
|
0-50mm
|
10μm
|
±(3%+50μm)
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50/200mm
|
300mm
|
2mm
|
φ45x70mm
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N02
|
0-200μm
|
0.1μm
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±(1%+0.5μm)
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1/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ16x70mm
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N.08Cr
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0-80μm
|
0.1μm
|
±(1%+1μm)
|
2.5mm
|
2mm
|
100μm
|
φ15x62mm
|
|
N1.6
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%+1μm)
|
1.5/10mm
|
2mm
|
50μm
|
φ15x62mm
|
|
N1.6/90
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%+1μm)
|
平面/10mm
|
5mm
|
50μm
|
φ13x170mm
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N10
|
0-10mm
|
10μm
|
±(1%+25μm)
|
25/100mm
|
50mm
|
50μm
|
φ60x50mm
|
|
N20
|
0-20mm
|
10μm
|
±(1%+50μm)
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25/100mm
|
70mm
|
50μm
|
φ65x75mm
|
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N100
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0-100mm
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100μm
|
±(1%+0.3mm)
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100mm/平面
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200mm
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50μm
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φ126x155mm
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CN02
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10-200μm
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0.2μm
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±(1%+1μm)
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平面
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7mm
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無限制
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φ17x80mm
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FN1.6
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0-1600μm
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0.1μm
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±(1%+1μm)
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1.5/10mm
|
5mm
|
F：0.5mm
N：50μm
|
φ15x62mm
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FN1.6P
|
0-1600μm
|
0.1μm
|
±(1%+1μm)
|
平面
|
30mm
|
F：0.5mm
N：50μm
|
φ21x89mm
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FN2
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0-2000μm
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0.2μm
|
±(1%+1μm)
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1.5/10mm
|
5mm
|
F：0.5mm
N：50μm
|
φ15x62mm
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|
注：
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F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻，F(xiàn)N2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。
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